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型 號(hào)FM-Nanoview EC-AFM
更新時(shí)間2025-10-30
所屬分類(lèi)環(huán)境控制型原子力顯微鏡
訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)2858
產(chǎn)品特色：
◆ 同時(shí)具備光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時(shí)工作，互不影響
◆ 可同時(shí)在普通空氣環(huán)境、液體環(huán)境、溫度控制環(huán)境、惰性氣體控制環(huán)境下工作
◆ 樣品掃描臺(tái)和激光檢測(cè)頭封閉式設(shè)計(jì)，內(nèi)部可充放特殊氣體，無(wú)需增加密封罩
◆ 激光檢測(cè)采用了垂直光路設(shè)計(jì)，配合氣液兩用型探針架可在液體下工作
◆ 單軸驅(qū)動(dòng)樣品自動(dòng)垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描
◆ 馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動(dòng)探測(cè)的智能進(jìn)針?lè)绞剑Ｗo(hù)探針及樣品
◆ 超高倍光學(xué)定位系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位
◆ 集成掃描器非線(xiàn)性校正用戶(hù)編輯器，納米表征和測(cè)量精度優(yōu)于98%
技術(shù)參數(shù)：
工作模式 | 接觸模式、輕敲模式 | 照明方式 | 柯勒照明系統(tǒng) |
選配模式 | 摩擦力/側(cè)向力、振幅/相位、磁力/靜電力 | 光學(xué)調(diào)焦 | 粗微動(dòng)手動(dòng)調(diào)焦 |
力譜曲線(xiàn) | F-Z力曲線(xiàn)、RMS-Z曲線(xiàn) | 攝像頭 | 500萬(wàn)像素CMOS傳感器 |
工作環(huán)境 | 空氣/液體、惰性氣體、加熱/制冷環(huán)境 | 顯示屏 | 10.1寸平板顯示器，帶圖像測(cè)量功能 |
XY掃描范圍 | 50×50um，可選20×20um，100×100um | 加熱裝置 | 溫度控制范圍室溫~250℃(選配) |
Z掃描范圍 | 5um，可選2.5um，10um | 冷熱一體臺(tái) | 溫度控制范圍-20℃~220℃(選配) |
掃描分辨率 | 橫向0.2nm，縱向0.05nm | 掃描速率 | 0.6Hz~30Hz |
樣品尺寸 | Φ≤68mm，H≤20mm | 掃描角度 | 0~360° |
樣品臺(tái)行程 | 25×25mm | 運(yùn)行環(huán)境 | Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng) |
光學(xué)物鏡 | 5X/10X/20X/50X平場(chǎng)復(fù)消色差物鏡 | 通信接口 | USB2.0/3.0 |
光學(xué)目鏡 | 10X |
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